默準亮相第五屆微奈米馬達年會展示環境振動檢測與主動隔振方案
微納測量中，振動是容易被忽視的關鍵因素
微奈米馬達、奈米機器人以及高解析度表徵研究， 對實驗環境穩定性提出了更高要求。
樓板振動、人員走動、空調裝置執行以及周邊儀器產生的微小擾動， 雖然通常無法被人體直接感知，但可能通過實驗平臺傳遞至精密儀器， 影響最終測量結果。
對於原子力顯微鏡（AFM）等高靈敏度裝置， 環境微振可能表現為影像噪聲增加、掃描條紋、漂移以及測試重複性下降等問題。
因此，精密實驗環境中的振動治理，並不是簡單增加隔振裝置， 而需要首先明確現場振動來源、頻率特徵以及對儀器的實際影響。
現場展示“檢測—分析—控制—驗證”完整流程
本次會議現場，默準圍繞AFM原子力顯微鏡應用場景， 搭建了環境振動檢測與主動隔振展示系統。
展臺現場展示了測振儀、振動分析系統以及主動隔振平臺， 通過即時採集環境振動訊號，讓參會嘉賓能夠直觀看到振動資料變化。
工作人員結合實際應用需求，介紹了默準針對精密儀器振動問題的解決思路：
先測量現場振動，再分析影響因素，最後制定針對性的控制方案。
相比僅依據裝置型別選擇隔振產品， 默準更加關注真實實驗環境中的振動特徵， 綜合考慮振動頻段、裝置敏感性、安裝條件以及實驗需求， 提供更加匹配的振動控制方案。
從發現問題，到驗證控制效果
默準致力於為精密實驗室提供環境振動診斷與控制服務。
從前期現場振動檢測、資料分析，到隔振方案設計、 裝置安裝除錯以及最終效果驗證， 默準希望幫助使用者解決三個核心問題：
- 實驗環境中的振動是否會影響儀器？
- 主要振動來源和影響頻段是什麼？
- 採取控制措施後，效果是否真正改善？
展會期間，多位參會專家和科研人員來到默準展臺， 就精密測量環境中的振動問題展開交流。
通過現場展示，環境振動這一“看不見的變數” 被更加直觀地呈現在科研人員面前。
持續服務精密科研與先進製造領域
未來，默准將繼續面向原子力顯微鏡（AFM）、 電子顯微鏡、精密光學、半導體檢測以及先進製造等領域， 持續完善環境振動檢測、診斷分析、隔振控制與效果驗證體系。
讓測量更精準，讓實驗環境更加穩定。
圖片說明：圖1：默準工作人員向參會嘉賓介紹環境振動檢測與主動隔振方案。圖2：默準展臺現場展示AFM應用、測振儀及主動隔振臺。圖3：第五屆微奈米馬達年會暨2026智慧奈米機器人與奈米系統國際研討會現場。